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上海长宁USB3.0DEVICE夹具销售
发布时间:2024-12-11
上海长宁USB3.0DEVICE夹具销售
抖动和眼高的测量是通过对100万个连续比特(UI)进行分析而得到,需要使用均衡器功能和适当的时钟恢复设置(二阶锁相环、或称为PLL,10 Mhz环路带宽,0.707的阻尼系数)。通过分析被测数据样本,可以外推出10-12误码率(BER)下的抖动值。例如,通过外推算法,把测得的RJ (rms)乘以14.069,可以得到10-12误码率下RJ(PK-PK)。
测试仪器:KEYSIGHT 网络 分析仪 E5071C(300khz-20Ghz)
  随着USB 3.0开始转入主流,成功的发射机一致性和认证测试对新产品上市至关重要。这些产品不仅能与其它USB 3.0设备很好地一起工作,还满足了消费者在各种条件下的性能和可靠性预期。除大幅度提高性能外,USB 3.0还提出了一系列新的测试要求,与上一代标准相比,带来了更多的设计和认证挑战。

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USB简介
在发送端测试中,通常需要消除USB3.0的测试夹具引入的损耗和反射。如下图1所示为USB3.0发送端测试示意图:夹具插到待测试芯片的USB口,夹具上通过PCB的传输线USB口引出到4个SMA连接头(USB3的TX和RX各两个),然后用SMA接口的同轴电缆连接到示波器。由于夹具上的连接器、过孔、传输线等会使信号发生衰减、色散或者反射,导致示波器测量到的信号有所恶化。力科的眼图医生软件包括了夹具去嵌功能,只需输入夹具的S参数模型文件(可由VNA或者TDR测量得到),即可计算出没有夹具时测量到的信号的波形与眼图。
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SSC(Spread Spectrum Clock)展频测量
  CTLE和FFE是线性均衡器。因此,这两种技术都会提升高频噪声,而产生信噪比劣化。但是,DFE在反馈环路中使用非线性元器件,使噪声的放大达到,补偿码间干扰(ISI)。图3示例了一个经过传输通道明显衰减的5Gbps 信号,和使用去加重、CLTE和DFE均衡技术处理之后的信号。
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码型发生器和分析仪之间的有损通道(即USB 3.0 参考通道和线缆)在垂直方向和水平方向导致了频率相关损耗,这种损耗的表现是眼图闭合(图6)。为解决这种损耗,可以使用发射机去加重,提升信号的高频成分,以便接收的眼图在10-12(或更低)BER下足够好。
 为防止这个问题,SSC用来扩散频谱的能量。载频被调制,在本例中被三角波调制。接收机测试中使用的频率扩展的幅度是5000 ppm,频率调制以33 kHz或每隔30 μs循环,表现为三角波的一个周期。在SSC后,频谱中的能量被扩散,没有一个频率违反政策限制。
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4、达成合作意向,签署租赁合同
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主要特点阻抗一致性优越,单端阻抗45Ω±5%。
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