上海长宁USB3.1TypeB5Gbps夹具销售
主要特点阻抗一致性优越，单端阻抗45Ω±5%。
产品描述迪赛康USB3.0测试夹具专门为USB3.0接口测试设计，SI特性符合USB3.0协议，阻抗一致性优异，支持USB-A连接器。此测试夹具可用于信号 速率，抖动，眼图，上升/下降沿等电气 性能测试，完全符合USB3.0规范。
应用场景：

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USB简介
USB简介

SSC经常使用在计算机主板的电路上，用于减小电磁辐射。在USB3.0中，需要测试扩频时钟的调制频率（SSC Modulate Rate）、频偏值（SSC Deviation Max）和频偏值（SSC Deviation Min），测试时PUT发送出CP1码型的数据流（CP是Compliance Pattern的简写，在USB3的物理层测试中，各项测试需要不同的测试码型）,CP1码型为D10.2，即0101连续跳变的码型，相当于频率2.5GHz的时钟，规范要求扩频时钟的调制频率为30-33KHz之间，频偏值在+/-300ppm之间，频偏值在-5300ppm到-3700ppm直接。如图4为力科示波器测量扩频时钟的结果。SSC是CTS Rev0.9中是必测项目，跟USB3.0芯片输入时钟紧密相关，如果输入时钟的SSC不符合要求，通常USB3.0的输出信号的SSC也无法通过测试。
　　CTLE实现方案的设计要比其它技术简单，能耗要低于其它技术。然而，在某些情况下，由于适应性、精度和噪声放大方面的限制，仅仅使用CTLE实现方案可能是不够的。其它技术包括前向反馈均衡（FFE）和判定反馈均衡（DFE），通过对数据样点加权一些补偿系数来补偿通道损耗。

码型发生器和分析仪之间的有损通道（即USB 3.0 参考通道和线缆）在垂直方向和水平方向导致了频率相关损耗，这种损耗的表现是眼图闭合（图6）。为解决这种损耗，可以使用发射机去加重，提升信号的高频成分，以便接收的眼图在10-12（或更低）BER下足够好。
在的SJ频率上（JTF的斜坡部分，或PLL环路响应的平坦部分），恢复的时钟可以跟踪数据信号上的抖动。因此，数据中相对于时钟的抖动根据JTF被衰减。在JTF平坦、PLL响应向下倾斜的更高SJ频率上，信号中存在的SJ被转移到下行分析仪。除压力眼图校准过程中的SJ以外，规定所有测量都要使用标准JTF。


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主要特点阻抗一致性优越，单端阻抗45Ω±5%。