上海金山成套USB3.0测试夹具租售
抖动和眼高的测量是通过对100万个连续比特（UI）进行分析而得到，需要使用均衡器功能和适当的时钟恢复设置（二阶锁相环、或称为PLL，10 Mhz环路带宽，0.707的阻尼系数）。通过分析被测数据样本，可以外推出10-12误码率（BER）下的抖动值。例如，通过外推算法，把测得的RJ （rms）乘以14.069，可以得到10-12误码率下RJ（PK-PK）。
主要特点阻抗一致性优越，单端阻抗45Ω±5%。
产品描述迪赛康USB3.0测试夹具专门为USB3.0接口测试设计，SI特性符合USB3.0协议，阻抗一致性优异，支持USB-A连接器。此测试夹具可用于信号 速率，抖动，眼图，上升/下降沿等电气 性能测试，完全符合USB3.0规范。
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尽管USB2.0的速度已经相当快，对于目前高清和动辄GByte的数据传输还是有些慢，在2008年11月，HP、Intel、微软、NEC、ST-NXP、TI联合起来正式发布了USB3.0的V1.0规范。USB3.0又称为Super Speed USB，比特率高达5Gbps，相比目前USB2.0的480Mbps的速率，提高了10倍以上，引用Intel专家Jeff Rencraft的话：“以25GB的文件传输为例，USB2.0需要13.9分钟，而3.0只需70秒左右。”25GB，正好是单面单层蓝光光盘的容量。USB3.0预计将在2010年逐渐在计算机和消费电子产品上使用。
在发送端测试中，通常需要消除USB3.0的测试夹具引入的损耗和反射。如下图1所示为USB3.0发送端测试示意图：夹具插到待测试芯片的USB口，夹具上通过PCB的传输线USB口引出到4个SMA连接头（USB3的TX和RX各两个），然后用SMA接口的同轴电缆连接到示波器。由于夹具上的连接器、过孔、传输线等会使信号发生衰减、色散或者反射，导致示波器测量到的信号有所恶化。力科的眼图医生软件包括了夹具去嵌功能，只需输入夹具的S参数模型文件（可由VNA或者TDR测量得到），即可计算出没有夹具时测量到的信号的波形与眼图。

3. 抖动与眼图测量
　　CTLE和FFE是线性均衡器。因此，这两种技术都会提升高频噪声，而产生信噪比劣化。但是，DFE在反馈环路中使用非线性元器件，使噪声的放大达到，补偿码间干扰（ISI）。图3示例了一个经过传输通道明显衰减的5Gbps 信号，和使用去加重、CLTE和DFE均衡技术处理之后的信号。

码型发生器和分析仪之间的有损通道（即USB 3.0 参考通道和线缆）在垂直方向和水平方向导致了频率相关损耗，这种损耗的表现是眼图闭合（图6）。为解决这种损耗，可以使用发射机去加重，提升信号的高频成分，以便接收的眼图在10-12（或更低）BER下足够好。
一旦校准了压力眼图，可以开始接收机测试。USB 3.0要求进行BER 测试，这不同于其上一代技术USB 2.0。接收机测试要求的测试是采用抖动容限方式的BER 测试。抖动容限测试使用Zui坏情况下的输入信号来执行接收机测试（上一节中提到的校准的压力眼图）。在压力眼图的基础上， JTF曲线的-3dB截止频率附近的一系列SJ频率（满足相应幅度要求）会被注入到测试信号中，同时误码检测器监测接收机中的错误或误码，计算BER。

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支持USB3.0子卡，母板测试，完全符合USB3.0规范