上海长宁USB3.2TypeB10Gbps夹具销售
支持USB3.0子卡，母板测试，完全符合USB3.0规范
应用场景：
各通道skew差异小于±2ps。

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尽管USB2.0的速度已经相当快，对于目前高清和动辄GByte的数据传输还是有些慢，在2008年11月，HP、Intel、微软、NEC、ST-NXP、TI联合起来正式发布了USB3.0的V1.0规范。USB3.0又称为Super Speed USB，比特率高达5Gbps，相比目前USB2.0的480Mbps的速率，提高了10倍以上，引用Intel专家Jeff Rencraft的话：“以25GB的文件传输为例，USB2.0需要13.9分钟，而3.0只需70秒左右。”25GB，正好是单面单层蓝光光盘的容量。USB3.0预计将在2010年逐渐在计算机和消费电子产品上使用。
力科于2009年4月发布了USB3.0的物理层测试解决方案，能提供端到端的互操作测试和兼容性测试，包括了Transmitter测试、Receiver测试、TDR测试。此外，力科还提供了业界的USB3.0协议层测试方案。

5. 差分电压幅度与去加重测量
　　CTLE实现方案的设计要比其它技术简单，能耗要低于其它技术。然而，在某些情况下，由于适应性、精度和噪声放大方面的限制，仅仅使用CTLE实现方案可能是不够的。其它技术包括前向反馈均衡（FFE）和判定反馈均衡（DFE），通过对数据样点加权一些补偿系数来补偿通道损耗。

码型发生器和分析仪之间的有损通道（即USB 3.0 参考通道和线缆）在垂直方向和水平方向导致了频率相关损耗，这种损耗的表现是眼图闭合（图6）。为解决这种损耗，可以使用发射机去加重，提升信号的高频成分，以便接收的眼图在10-12（或更低）BER下足够好。
　　如前所述，USB 3.0中接收机一侧的均衡技术改善了ISI破坏的信号，ISI来自于参考通道和线缆中的频率相关损耗。去加重同理，其通过信号处理方法提升信号的高频成分。

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极低的插入损耗。